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C测试仪

C测试仪

产品型号: 3504-60/ 3504-50/ 3504-40

所属分类:LCR电桥测试仪

产品时间:2017-07-12

简要描述:封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms
能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
查出全机测量中的接触错误,提高成品率
根据BIN的测定区分容量
比测仪和触发器同步输出功能

详细说明:

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
  • 高速测量2ms
  • 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
  • 对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
  • 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
  • 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
  • 查出全机测量中的接触错误,提高成品率
输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本确度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 (开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示 发光二级管 (6行表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 4端子控制检测功能(仅限3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, zui大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1,预备电源保险丝×1,接地适配器×1
 
(不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)



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