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集成电路测试仪

集成电路测试仪

产品型号: ICT33C

所属分类:集成电路测试仪

产品时间:2017-07-08

简要描述:◆器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。
◆器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断 其型号。
◆器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。
◆器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能*,引脚排列*的器件型号。

详细说明:

产品特点: 
◆器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。
◆器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断 其型号。
◆器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。
◆器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能*,引脚排列*的器件型号。
◆电压调节选择:3V、5V、9V、15V。
◆内部RAM数据修改:ICT-33C可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。
◆EPROM、EEPROM器件读入:ICT-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入
并保存。
◆EPROM、EEPROM器件写入:ICT-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM
器件中,并自动校验。
◆ 新增RS232接口,与PC通讯,互送资料。
 
技术规格: 
1、CMOS40系列:103种。                               
2、CMOSMCI40系列:103种。
3、CMOS45系列:60种。                                
4、CMOSMCI45系列:60种。
5、光耦合器系列:133种。                               
6、TTL74/54系列:714种。
8、数码管系列:
   0.5寸共阳[001];共阴[002];0.3寸共阳[003];共阴[004];0.7寸共阳[005];共阴[006].
7、TTL75/55系列:82种。
9、常用RAM系列:
   2112  2114  2016  6116  6264  62256  60256  628128 24C01 24C02 24C04 24C08 
   24C16 24C32 27C010 29C256 29C010  24C64 93C46 93C56 93C66 28C256
   
10、EEPROM系列:
   2816  2817  2864 28256  28040  29101 
11、EPROM系列:
    2716  2732  2764  27128  27256  27512 
12、微机外围电路系列:
    8155 8156  8255   8253  8259  8212  8282  8283  8216  8816  8243  8226
    8205   8286  8287  6820  6821  6880   6888  6887  6889  6810  6520  8254
    8251 8708  6840  8718  8728  8279  Z80CTC(802)
13、常用单片机系列:
    8031  8032  8051  8052  8048  8039  8035  8049  8751  8752 89C1051 89C2051 
    8751H 87C52 89C51 89C
14、其他系列:
    2002 2003  2004   3486  3487  3459  2631  2632 2633  1831  1908
    339 192   293   393   555   556   324   22100  2802  2803  2804  
    9637   9638  7831   7832  8831  88323 446MC1413(2003)
    MC1416(2004)  MC14160(40160)   DG201 MC14161(40161) 
    MC14162(40162)MC14163  (40163) TIL308  MC14189(75189)
    2902(324) 8T26(826)  AD506
 相关资料下载:
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ICT33C+使用说明书
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ICT33C使用说明书
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ICT33C+数字/模拟ICG功能测试仪
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