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详细说明：
显示半导体器件的各种特性曲线：
测量半导体器件的静态参数：
能在不损坏器件的情况下，测量半导
体器件的极限参数。
| 集电极电流范围 | 10μA/div~0.2A/div（可扩展×10） | |
| 集电极电压范围 | 0.05V/div~50V/div,分10档，误差不超过±5% | |
| 基极电压范围 | 0.05V~0.5V/div,分4档，误差不超过±5% | |
| 阶极电流范围 | 5μA/div~10mA/div,分11档，误差不超过±5% | |
| 阶梯电压范围 | 0.05V~0.5V,分4档，误差不超过±5% | |
| 每簇级数 | 0~10级连续可调 | |
| 串联电阻 | 0、10kΩ，误差不超过±10% | |
| 峰值电压 | 0~50V、0~500V 连续可调 | |
| 电流容量 | 0~50V 2A；0~500V 500mA | |
| 功耗限制电阻 | 约0~100kΩ连续可调 | |
| 物理 特性 | 容性电流 | 500V时小于5μA |
| 外形尺寸 | 160H×310W×450D（mm） | |
| 质量 | 约9.5kg |
