半导体分立器件测试仪

产品型号： ICT2900

所属分类：半导体器件测试仪

产品时间：2023-05-20

简要描述：系统有探针台和机械手接口，与探针台和机械手连接，用于圆片测试和大批量成品测试。配合软件设置，可对被测器件进行筛选和分类。运行于WIN 98 下的系统控制和测试程序采用了方便易学的窗口菜单界面，测试人员可以轻松快捷地控制系统，测试器件和开发测试程序。

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产品特点：

    ICT2900系统由 Pentium 计算机和系统主机构成。系统基本配置包括 PC 一台
（Pentium CPU, 128M RAM, >20G HD, 48X CDROM）。一个测试头，600 V 电压输出/ 20A 电流输出能力。系统可扩充为三个测试头，2000 V 电压输出/ 100 A 电流输出，以及交流参数和时间参数（开发中）测量能力。基本配置下zui小漏电流测量分辨率为 30 pA。系统施加和测量精度为 0.1% ~0.5% 。ICT2900系统的可扩充结构，使用户可以根据需要选购不同的系统配置。

    系统有探针台和机械手接口，与探针台和机械手连接，用于圆片测试和大批量成品测试。配合软件设置，可对被测器件进行筛选和分类。运行于WIN 98 下的系统控制和测试程序采用了方便易学的窗口菜单界面，测试人员可以轻松快捷地控制系统，测试器件和开发测试程序。

     ICT2900系统具有 IEEE 488 接口，通过这个接口连接高精度数字电压表，可对系统进行检验和校准。

特点：

● Pentium 系统主控计算机
● 600 V 高压程控电压源（基本配置）zui高2000 V
● 20 A 电流输出能力（基本配置），zui大 100 A
● 30 pA 漏电流测量分辨率
● 多测试头（基本配置一个）
● 简便易学的窗口菜单式软件
● 测试种类几乎覆盖全部半导体分立器件
● 广泛用于半导体分立器件的生产测试，验收测 试，质量控制和工程设计
● 终身

技术规格：

系统基本配置及指标

一. 电压/电流源（V/IS） 16位DAC 程控电压/电流箝位

1. 加流（FI）
量程 分辨率 精度
20 A 305uA 0.5%
2 A 30.5uA 0.5%
200 mA 3.05uA 0.5%
20 mA 0.305uA 0.5%
2 mA 30.5nA 0.5%
200 uA 3.05nA 0.5%
20 uA 0.305nA 0.5%
2 uA 30.5pA 0.5%

2. 加压（FV）
量程 分辩率 精度
±20V 305uV 0.5%
±10V 150uV 0.5%
± 2V 30.5uV 0.5%
±200 mV 3.05uV 0.5%

二. 数据采集（包括电压和漏电流测量）
16位 ADC 100K /S 采样速率 8K 数据RAM

1.电流测量（MI）
量程 分辨率 精度
100mA 3.05uA 0.5%
10mA 305nA 0.5%
1mA 30.5nA 0.5%
100uA 3.05nA 0.5%
10uA 305pA 0.5%
1uA 30.5pA 0.5%

2.电压测量（MV）
量程 分辨率 精度
±200V 3.05mV 0.5%
± 20V 305uV 0.5%
± 2V 30.5uV 0.5%
±200mV 3.05uV 0.5%

三．高压源 HVS （Std.）
规格 数量 精度
±600V / 10mA 1 0.5%
150mV分辨率, 12位DAC
四．继电器矩阵（STATION）

五．系统接口板 （IEEE488，HANDLER接口）

 六．计算机接口卡

七．软件
    操作系统：PWIN98窗口菜单控制及编程方式

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