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半导体分立器件测试仪

半导体分立器件测试仪

产品型号: ICT2900

所属分类:半导体器件测试仪

产品时间:2017-07-08

简要描述:系统有探针台和机械手接口,与探针台和机械手连接,用于圆片测试和大批量成品测试。配合软件设置,可对被测器件进行筛选和分类。运行于WIN 98 下的系统控制和测试程序采用了方便易学的窗口菜单界面,测试人员可以轻松快捷地控制系统,测试器件和开发测试程序。

详细说明:

 

产品特点:

    ICT2900系统由 Pentium 计算机和系统主机构成。系统基本配置包括 PC 一台
(Pentium CPU, 128M RAM, >20G HD, 48X CDROM)。一个测试头,600 V 电压输出/ 20A 电流输出能力。系统可扩充为三个测试头,2000 V 电压输出/ 100 A 电流输出,以及交流参数和时间参数(开发中)测量能力。基本配置下zui小漏电流测量分辨率为 30 pA。系统施加和测量精度为 0.1% ~0.5% 。ICT2900系统的可扩充结构,使用户可以根据需要选购不同的系统配置。

    系统有探针台和机械手接口,与探针台和机械手连接,用于圆片测试和大批量成品测试。配合软件设置,可对被测器件进行筛选和分类。运行于WIN 98 下的系统控制和测试程序采用了方便易学的窗口菜单界面,测试人员可以轻松快捷地控制系统,测试器件和开发测试程序。

     ICT2900系统具有 IEEE 488 接口,通过这个接口连接高精度数字电压表,可对系统进行检验和校准。

特点:

● Pentium 系统主控计算机
● 600 V 高压程控电压源(基本配置)zui高2000 V
● 20 A 电流输出能力(基本配置),zui大 100 A
● 30 pA 漏电流测量分辨率
● 多测试头(基本配置一个)
● 简便易学的窗口菜单式软件
● 测试种类几乎覆盖全部半导体分立器件
● 广泛用于半导体分立器件的生产测试,验收测 试,质量控制和工程设计
● 终身

技术规格:

系统基本配置及指标

一. 电压/电流源(V/IS) 16位DAC 程控电压/电流箝位

1. 加流(FI)
量程 分辨率 精度
20 A 305uA 0.5%
2 A 30.5uA 0.5%
200 mA 3.05uA 0.5%
20 mA 0.305uA 0.5%
2 mA 30.5nA 0.5%
200 uA 3.05nA 0.5%
20 uA 0.305nA 0.5%
2 uA 30.5pA 0.5%

2. 加压(FV)
量程 分辩率 精度
±20V 305uV 0.5%
±10V 150uV 0.5%
± 2V 30.5uV 0.5%
±200 mV 3.05uV 0.5%

二. 数据采集(包括电压和漏电流测量)
16位 ADC 100K /S 采样速率 8K 数据RAM

1.电流测量(MI)
量程 分辨率 精度
100mA 3.05uA 0.5%
10mA 305nA 0.5%
1mA 30.5nA 0.5%
100uA 3.05nA 0.5%
10uA 305pA 0.5%
1uA 30.5pA 0.5%

2.电压测量(MV)
量程 分辨率 精度
±200V 3.05mV 0.5%
± 20V 305uV 0.5%
± 2V 30.5uV 0.5%
±200mV 3.05uV 0.5%

三.高压源 HVS (Std.)
规格 数量 精度
±600V / 10mA 1 0.5%
150mV分辨率, 12位DAC
四.继电器矩阵(STATION)

五.系统接口板 (IEEE488,HANDLER接口)


 六.计算机接口卡

七.软件
    操作系统:PWIN98窗口菜单控制及编程方式



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