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可控硅综合参数测试仪

可控硅综合参数测试仪

产品型号: HB2931B

所属分类:半导体器件测试仪

产品时间:2023-05-20

简要描述:可控硅结合参数测试仪。可测量晶闸管的通态,短态,触发电压,维持电流,维持电压等参数。VTM:0-10V ITM:0-15A VDRM:0-4KV VG:0-1-V IG:0-00MA ICH:0-500MA。

详细说明:

可控硅结合参数测试仪。可测量晶闸管的通态,短态,触发电压,维持电流,维持电压等参数。VTM:0-10V ITM:0-15A VDRM:0-4KV VG:0-1-V IG:0-00MA ICH:0-500MA。



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