矢量网络分析仪基础知识及S参数测量

点击次数：16863 更新时间：2013-02-20

矢量网络分析仪基础知识及S参数测量

§1 基本知识

1.1 射频网络

这里所指的网络是指一个盒子，不管大小如何，中间装的什么，我们并不一定知道，它只要是对外接有一个同轴连接器，我们就称其为单端口网络，它上面若装有两个同轴连接器则称为两端口网络。注意：这儿的网络与计算机网络并不是一回事，计算机网络是比较复杂的多端（口）网络，这儿主要是指各种各样简单的射频器件（射频网络），而不是互连成网的网络。

1．单端口网络习惯上又叫负载Z_L。因为只有一个口，总是接在zui后又称终端负载。zui常见的有负载、短路器等，复杂一点的有滑动负载、滑动短路器等。

·单端口网络的电参数通常用阻抗或导纳表示，在射频范畴用反射系数Γ（回损、驻波比、S₁₁）更方便些。

2．两端口网络 zui常见、zui简单的两端口网络就是一根两端装有连接器的射频电缆。

·匹配特性两端口网络一端接精密负载（标阻）后，在另一端测得的反射系数，可用来表征匹配特性。

·传输系数与插损对于一个两端口网络除匹配特性（反射系数）外, 还有一个传输特性，即经过网络与不经过网络的电压之比叫作传输系数T。

插损（IL） = 20Log│T│dB ，一般为负值，但有时也不记负号，Φ即相移。

·两端口的四个散射参量测量两端口网络的电参数，一般用上述的插损与回损已足，但对考究的场合会用到散射参量。两端口网络的散射参量有4个，即S₁₁、S₂₁、S₁₂、S₂₂。这里仅简单的（但不严格）带上一笔。

S₁₁与网络输出端接上匹配负载后的输入反射系数Г相当。注意：它是网络的失配，不是负载的失配。负载不好测出的Γ，要经过修正才能得到S₁₁ 。

S₂₁与网络输出端匹配时的电压和输入端电压比值相当，对于无源网络即传输系数T或插损，对放大器即增益。上述两项是zui常用的。

S₁₂即网络输出端对输入端的影响，对不可逆器件常称隔离度。

S₂₂即由输出端向网络看的网络本身引入的反射系数。

中矢网可以交替或同时显示经过全端口校正的四个参数，普及型矢网不具备这种能力，只有插头重新连接才能测得4个参数，而且没有作全端口校正。

1.2 传输线

传输射频信号的线缆泛称传输线。常用的有两种：双线与同轴线，频率更高则会用到微带线与波导，虽然结构不同，用途各异，但其基本特性都可由传输线公式所表征。

·特性阻抗Z₀ 它是一种由结构尺寸决定的电参数，对于同轴线：

式中ε_r为相对介电系数，D为同轴线外导体内径，d为内导体外径。

·反射系数、返回损失、驻波比这三个参数采用了不同术语来描述匹配特性，人们希望传输线上只有入射电压, 没有反射电压, 这时线上各处电压一样高，只是相位不同，而实际上反射总是存在的, 这就需要定义一个参数。式中Z_L为负载阻抗, Z₀为同轴线的特性阻抗。

由于反射系数永远≤1, 而且在甚高频以上频段手边容易得到的校准装置为衰减器，所以有人用返回损失（回损）R.L.来描述反射系数的幅度特性，并且将负号扔掉。

回损 R.L. = 20Log│ΓdB （1.4）

有反射时, 线上电压即有起伏, 驻波比（S.W.R）是使用开槽测量线zui易得到的一个参数，比较直观。

当|Г|<< 1时，ρ= 1 + 2│Γ│ （1.6）

本仪器三种读数皆有, 可任意选用。

·阻抗圆图

如A，B两个规格的天线，若只在标网上选择，肯定选B而不要A，而在矢网上看，A比B有潜力得多，加个电容就比B好了。这种情况是大量存在的，在全波振子对测试中就是这种情况。因此，在调试中首先要将天线阻抗调集中（在圆图上成团）。举例来看，反射网与振子高度调节就有这种情况，折合振子单边加粗也有这种情况，然后再采取措施（如并电容，串电感，调短路片位置，改平衡器内导体等）使其匹配。而且经常不是使中频处于圆图中心，而是使整个频带处于中心某一小圆内，即牺牲一下中频性能，来换取总带宽。

阻抗圆图上适于作串联运算，若要作并联运算时，就要转成导纳；在圆图上这非常容易，某一点的反对称点即其导纳。请记住当时的状态，作阻抗运算时图上即阻抗，当要找某点的导纳值时，可由该点的矢徑转180°即得；此时圆图所示值即全部成导纳。状态不能记错，否则出错。记住，只在一个圆图上转阻抗与导纳，千万不要再引入一个导纳圆图，那除了把你弄昏外，别无任何好处。另外还请记住一点，不管它是负载端还是源端，只要我们向里面看，它就是负载端。永远按离开负载方向为正转圆图，不要用源端作参考，否则又要把人弄昏。圆图作为输入阻抗特性的表征，用作简单的单节匹配计算是非常有用的，非常直观，把复杂的运算用简单的形象表现出来，概念清楚。但对于多节级连的场合，还是编程由计算机优化来得方便。

·传输线的传输参数同上面两端口网络，不再重复。

1.3 有关仪器的几个术语

·网络分析仪　能测单或两端口网络的各种参数的仪器, 称网络分析仪。只能测网络各种参数的幅值特性者称为标量网络分析仪，简称标网。既能测幅值又能测相位者称为矢量网络分析仪，简称矢网，矢网能用史密斯圆图显示测试数据。

·连接电缆　一根两端装有连接器的射频电缆叫连接电缆（也有称跳线的），反射特小的连接电缆称测试电缆。

　　·反射电桥为了测得反射系数，需要一种带有方向性（或定向性）并保持相位信息的器件，如定向耦合器或反射电桥，本仪器采用的是反射电桥，它的输出正比于反射系数。其原理与惠司顿电桥*相同，只不过结构尺寸改小适于高频连接，并且不再想法调平衡，而是直接取出误差电压而已。反射电桥一般只能测同轴线等单端馈线系统。

·差分电桥能测双线馈线系统的反射电桥称差分电桥。

·谐杂波抑制能力一般国产扫频源的谐杂波在－20dB左右，甚至杂散波只有－15dB，进口扫频源好的也就在－30dB多一些，外差式接收机对谐杂波的抑制能力皆在40dB以上，不会出现什么问题。而对于宽带检波低放的扫频仪与标网，不外接滤波器对寄生谐杂波是没有抑制能力的，有时就会出现下面几种问题：滤波器带外抑制会被测小，天线驻波会被测大，窄带天线增益会测低。

·动态范围　仪器设置到测插损，将一根好的短电缆的一头接到输出口，另一头接到与屏幕显示相对应的输入口上，按执行键进行校直通后，拔掉电缆后仪器显示的数值即动态范围，应≥70dB。

·对插损的广义理解

隔离度　不该通而通了的插损称隔离度或防卫度。

方向图　天线对一固定信号在不同方向的插损称方向图。

§2 传输线的测量

2.1 同轴线缆的测量

一．测电缆回损

1．待测电缆末端接上阴负载（或阳负载加双阴），测其入端回损，应满足规定要求。假如是全频段测试的话，那一般是低端约在30－40分贝左右，随着频率增高到3GHz，一般只能在20dB左右。假如全频段能在30dB以上此电缆可作测试电缆，一般情况下尤其是3GHz附近是很难作到30dB的，能作到26dB就不错了。

2．回损测试曲线呈现周期性起伏，而平均值单调上升，起伏周期满足⊿F=150/L，式中L为电缆的电长度（米），⊿F单位为MHz，则此电缆属常规正常现象，主要反射来自两端连接器处的反射；若低端就不好，甚至低频差高频好，或起伏数少，则电缆本身质量不好。

3．回损测试曲线中某一频点回损明显低于左右频点呈一谐振峰状，此时出现了电缆谐振现象。只要不在使用频率内可以不去管它，这是电缆制造中周期性的偏差引起的周期性反射在某一频点下叠加的结果，我们只能先避开它。这种现象在1998年我们买的SYV-50-3电缆中多次碰到，回损只有10－14dB，粗的电缆倒不常见此情况，用户只有自己保护自己，选择质量好的才买。

4．在测回损中出现超差现象时，可按下面提到时域故障定位检查加以确诊，以便采取相应措施。

二．测电缆插损（也称测衰减）

1．替代法

在使用要求频段下，用插损档通过两个10dB衰减器用双阳校直通，校后用电缆代替双阳接入两衰减器之间即得插损曲线，此法为zui常用的方法。

2．回损法测插损

在仪器经过开短路校正后，接上待测电缆，测末端开路时的回损，回损除2即得插损，此法的优点在于不会出现插损为正的矛盾，特别适合于已架设好的长的粗馈管首尾相距较远的场合。

3．非正常情况

检测电缆时用全频段测试，插损由小到大应是一单调平滑曲线，并且插损在标准规定以内，小有起伏也不要紧，那是反射叠加引起的。但若有某一频点附近显著高于左右频点（插损增大）呈一下陷曲线状，说明此电缆有问题。多数是连接器外皮压接不良所造成，返工后重测。少数是电缆本身形成的，那么此电缆只能隔离待查，停止使用。

连接器外皮显著接触不良，可用下面提到的电缆屏蔽性能检查方法加以确诊。

三．同时测插损与回损 可按说明书4.7节进行双参量测量。

双参量测量精度不如单参量高，若无必要，以采用单参量为宜。

四．同轴电缆电长度的测量

1．引言

在射频范围内，经常采用同轴电缆对各个功能块、器件或振子单元进行连接（即馈电），除了要求插损小、匹配好之外，常常还对引入的相移提出要求。一般只要求相对相移，譬如同相天线阵或功率组合单位等。它们要求每根电缆一样长，而收发开关或阻抗变换场合则会提出长度为λ/4的要求，而U形环平衡器又会提出长度为λ/2的要求，这就出现了如何测电缆电长度的问题。

在不加支持片的同轴线段中，同轴线段的机械长度（或几何长度）与电长度是一致的，在有支持片或充填介质的情况下两者是不同的，机械长度与电长度之比为波速比（也有称缩波系数，或缩短系数），一般在0.66到1之间，电长度显得长些，而实际机械长度显得短些。实际上要求的是电长度，矢网正好能测电长度。

2．测反射相位定电缆电长度

当电缆末端开路时，在其输入端测其反射的相位是容易的，由于反射很强测试精度也较高。当然末端短路也是可行的，但不如开路时修剪长度来得方便，因此常在末端开路的情况下进行测试。

ⅰ、λ/4电缆的获得

·仪器设定在要求的使用频率下点频工作，在测回损状态下校开路与短路。

·接上待测电缆（末端开路），若电缆正好为λ/4时，相位读数应在180⁰附近。

若Φ<180⁰则说明电缆偏长，反之则偏短。

·此法也适于测λ/4奇数倍的电缆，致于是3λ/4还是λ/4，点频下是分不清的。

ⅱ、λ/2电缆的获得

· 同前（即在点频测回损状态下校开路与短路）。

· 接上待测电缆（末端开路），若正好为λ/2则测试相位值应在0⁰附近，若Φ在0⁰以上（*象限），则电缆偏短，若在360⁰以下（第四象限），则偏长。

·此法也适于λ/2整倍数的电缆，至于是λ还是λ/2，在点频下是分不清的。

ⅲ、与参考电缆比相对长度

·同前（即在点频测回损状态下，校开路与短路）。

·接上参考电缆（也称标准电缆），记下相位读数Φ₀。

·接上待测电缆，若读数Φ=Φ₀则说明两电缆等长，不等则相差为Φ-Φ₀，注意仪器相位为值，读数越大越，Φ大于Φ₀则偏短，反之则偏长。

ⅳ、几点说明

·ⅰ、ⅱ两种，由于是在λ/4与λ/2特殊情况下进行的，与电缆特性阻抗无关，而第ⅲ种测试精度与特性阻抗有关，只有相同特性阻抗的电缆比较才有意义，否则出错。

·在测试中有时会搞不清是长了还是短了，可以在末端或始端加一小段电缆（如保护接头）试试，若更离开理论值说明电缆长了，若更靠近理论值则说明电缆短了。还有一种方法，是用三个频率，即f₀±Δf，扫频测试，若高频点接近理论值则电缆短了，若低频点接近理论值则电缆长了。

·由于反射法电波在电缆上走了两次（一个来回），所以读数与误差皆要除以2。

3．测传输相移定电缆长度

在行波状态下，电缆引入的相移即其电长度，这种作法一般更符合实际使用情况，但由于要求两端皆接上高频连接器，因此一般只适于验收，而不适于调整。下面介绍一下比较两根电缆的相对相移。

·在测插损状态下，经过连接电缆与两个10dB衰减器对接后校直通。

·在两个衰减器之间串入参考（标准）电缆，记下相位测试值Φ₀。

·换接待测电缆，若测试值亦为Φ₀则两者等长，若测试值为Φ，Φ-Φ₀为正则短了，反之则长了。搞不清时，请参见上面几点说明中的第二点。

4．时域故障定位法测电缆电长度

同轴电缆末端开路（或短路）测出的故障位置即电缆电长度,，此法可测电缆电长度。

·按测回损法连接，并选时域状态。

·估计电缆电长度，将距离档选到合适距离，以避免模糊距离。

·按菜单键取出机内扫频方案后，进行开路与短路校正。

·接上待测电缆，进行测试，画面出现一峰点。

·将光标移到峰点附近后按菜单键, 光标在《放大》下闪动, 再按执行键画面将展开四倍后重画一次,并在方格下

面显出d_max=×××等数值, 此值即电缆电长度。

五．同轴电缆的时域故障定位检查

1．同轴电缆的三段反射

同轴电缆可说是射频设备中少不了的一种连接件，短者几厘米，长者几百米，它并不是一种很起眼的东西，但对系统性能确是至关紧要的一环。对同轴线可以提出多方面的要求，现在我们只看看对它的驻波比要求。

通常要求同轴电缆的驻波比≤1.1，即使在V频段这个要求也不低，在更高频段那就更难了。对于电视台发射天馈系统，其系统的驻波比就要求为1.1，那分配给馈线的指标就更不好提了。

一根同轴线（电缆或馈管）从其输入端测出的驻波比是由三段反射的矢量叠加造成的。一段是远端反射，它包括了负载的反射以及电缆输出连接器处的反射。如果负载是无反射的标阻，则远端反射即指输出连接器处的反射，另一段是输入连接器（包括转接器）处的反射叫近端反射。还有中间这一段由电缆本身制造公差引起的分布反射，使用者对这段反射是无能为力的，只是把问题搞清楚而已，以便于采取相应的措施。

如何分清这三段反射呢？

2．时域分布反射的获得

为分清一根电缆的三段反射，通常用时域反射计，它是一种能发射很窄脉冲（ns级）后看其反射波形的仪器，虽然它很有性，但确有三点不足：*点是有死区（或盲区）。对近端反射无能为力，因为在发射脉冲宽度内的反射一般是被发射脉冲淹没了。第二点是它对波导系统无能为力。第三点由于发的是窄脉冲，所占频段极宽，待测件的测试频段不能控制。如本来电缆只用于400兆赫附近，而它测的却是几十赫到千兆赫内全频段的性能，这并不适合于一般使用者的要求，它只是一种电缆生产厂的一种的贵重设备。看来这种仪器早晚是要被淘汰的，它的性能不如测频域反算时域的方法来得灵活，而且还多花钱（作为验收，频域仪器是*的，假如它有时域功能就不用再买时域反射计了）。

现在可用网络分析仪上的时域故障定位功能软件来完成时域反射的测试。它的作法是在频域中测出多个有关频率的反射系数，然后经过运算来得到时域画面。纵坐标为反射系数幅度值，横坐标为距离或时间。不单分清了三段反射而且看出了同轴电缆上的分布反射，从而可以检查电缆制造的工艺水平或质量水平。普及型矢量网络分析仪PNA上带有时域功能，它能根据电缆使用频段来设定扫频起止频率，以便得到符合实际需要的时域检查。PNA的时域zui高分辨力为6cm，随着探测长度加长而降低。下面的例子都是用PNA测的，曲线都是机内所附的微打印机打的。对一般使用者以及专业电缆生产厂都有参考意义。

从以上测试结果可以得到如下初步结论。

·相同品种的同轴电缆，粗的分布反射比细的分布反射小。

·分清三段反射能帮你找出故障（或指标差）的原因，明确改进方向。

根据目前掌握的实际情况，插头的反射不宜大于0.03，电缆的分布反射不宜大于0.01，电视用时要求还要高一些。

·故障定位功能是很有用的，按使用频段设定扫频频段也是有效的，宽带反射小而起伏多,窄带的反射大而起伏少不容易漏掉故障。

六．特性阻抗的检测

1．问题的提出

这里举个例子，某厂加工了一批SFF-50-1.5的带SMA插头的电缆，做了五根样品长约120mm，都是合格的。后来做了几十根长约240mm的却全部临界，在430MHz附近ρ为1.15。用时域看反射在两端插头处约0.07，为此加测了Z₀，发现为47Ω。后来换了Z₀为49.8的电缆，ρ只有1.04。原来做短的合格是因为刚好反射相消，而长的长度不合适造成反射叠加，在窄带虽可用凑长度解决问题，但还是采用好的电缆为宜。

当时域检测发现两端连接器处反射较大时（譬如>0.04），除了装配质量外，还有插头本身设计问题，一般市售连接器是不适于用到3GHz的。假如连接器是仔细设计，考虑了支持片的影响的，那么还有一个因素那就是电缆的特性阻抗可能不对，此时就应测测电缆特性阻抗。

2．作法

·样本与扫频方案对于已装好连接器的跳线，长度已定，只能由长度定扫频方案而对于电缆原材料，则可以按要求频率确定下料长度。此时待测电缆一头装连接器即可。

·样本长度与扫频方案是相互有关的，可以点频测也可以扫频测，取值要取相位靠近270⁰时的电抗值，此时电长度为λ/ 8、电抗值在±j50Ω附近，如40～60Ω之间，否则不易得到可信数据。测试频率宜低些，以减少连接器，以及末端开短路的差异造成的误差。

以SFF-50的电缆为例，取样本长500mm，其电长度即为700mm（乘1.4波速比），扫频方案可选46～56 MHz，ΔF=2MHz即可。

·仪器在测回损状态下，电桥输入端与输出端各串一只10dB衰减器。校过开短路后，接上待测电缆。记下待测电缆在末端开路与短路时的输入电抗值（不管电阻值），两者相乘后开方即得特性阻抗值。

·一般测试只选一点zui靠近270⁰的点（即50Ω）进行计算即可，要求高时，可在50±10Ω范围内选5点进行平均，这5点之间起伏不应大于0.5Ω，否则电缆质量不好。

·电缆两端测出的特性阻抗有可能是不相同的，说明该电缆一头特性阻抗高，一头低。要求高时，应对样本进行掉头测试，两端测出的特性阻抗不应相差0.5Ω.

注意: 1：虽然所有λ/ 8奇数倍的频点皆能进行测试，但只测了前面λ/ 8，后面λ/4及其倍数都是不参与的；它只提供了0点与∞点，这两点只与长度有关，而与Z₀无关。

2：测75Ω电缆时，请用75Ω电桥，测试数据请乘1.5倍。

3：有人采用测数百米长电缆的输入阻抗来代替测Z₀，这并非标准方法，实际上是对电缆提出了超标准的要求。除非电缆非常好，否则不易通过。

七．电缆屏蔽度检测

也称漏泄检测，也有称防卫度检测，作法同阵面幅相检测。

·采用全频段扫频方案，测插损，用一根好的短电缆校直通；

·在输出端接上待测电缆，其末端接上阴负载或双阴加阳负载；

·将一个拾取环（见幅相检测），通过一段电缆接到输入端，当环远离待测电缆时读数应≥70dB；

·将环靠在电缆上滑动，若读数仍在70dB以上则电缆性能，若读数在60dB左右属良好，若读数在40-50dB就不太好，但勉强能用，若读数在20-30dB则肯定有了故障，一般出现在连接器处，必须重装，压紧后再测，连接器处不宜低于50dB；

·连接器接地不良时，其时域波形表现为拖尾巴波形，而不是一个单纯的脉冲波形；

以上讲的是带插头的电缆（常称跳线）的检测方法，只是一种查毛病的方法，并不作为验收的依据。

2.2 PNA用于测量75Ω系统的补充说明

PNA本身是50Ω系统测量仪器，在有75Ω配套件的情况下，可在30-1000MHz频段内对75Ω系统进行测量。

1．测回损主要是改用75Ω电桥，该电桥输入输出端口仍为50Ω，故仍然可用原配电缆接上，而电桥测试端口为75Ω，即能按原说明书所述方法对75Ω系统的反射特性进行测试。

·测阻抗或相位或者所测驻波较大时，请用75Ω短路器加校短路。

·对电桥定向性有怀疑时，可用75Ω负载验证，也可采用校零措施。

·改用75Ω电桥测试75Ω系统时所有驻波、回损、相移值都是对的，但阻抗值请注意还要乘1.5才对。

2．测插损在仪器输出输入端各接一根50Ω电缆，在电缆另一端各接一只50K/75Ω转换，并用75Ω双阴将它们对接起来校直通，然后取出双阴串入待测件即可测出其插损与相移。示意图如下：

3．测增益接法与测插损相似，但应加30dB衰减器后校直通，衰减器可以是50Ω的，也可以是75Ω的，各自串入其相应位置，其作法与原说明书相同。

4．时域故障定位除改用75Ω电桥外其他与说明书全同，校短路请注意要用细芯子的75Ω短路器。

注意：由于75Ω与50Ω两者内导体差别较大，使用时应小心不要插错，粗的插入细的会损坏器件，细的插入粗的则接触不良甚至不通。

5. 75Ω配套件清单

2.3 多对双绞线电缆的测试

在电脑网络连线中，用到了多对双绞线电缆，而且提出了技术要求，如何用常规单端（一线一地制，如同轴线）仪器进行测试呢？

一． 技术要求: 有关单位对于5类线（四对双绞线）的技术要求见下表（每对绕成双绞线的线又有多股与单股之分。相当线号为24AWG—26AWG）。

注：在执行5类线标准验收时，有的用户要求按输入阻抗为100±15Ω来验收，其理由为既然有特性阻抗为100±15Ω的要求，而现在线很长（300m），因此只测其输入阻抗来代替前两项要求。

对于理想的均匀线，这个要求还勉强说得过去，问题是线既不理想也不均匀，这个要求就超出了标准范围，否则就没有必要定第二栏的要求。对于100MHz，标准规定回损为16dB，假如按输入阻抗要求则为23dB，超过标准7dB；因此把特性阻抗验收标准改成按输入阻抗验收，是不符合标准的作法。另外有的仪器有|Z|坐标，这是一种电路参数而不是传输线参数，用|Z|≤100±15Ω来要求传输线的输入阻抗，是会闹笑话的。比如Z_in=j100Ω,是*符合|Z|≤100±15Ω要求的，而对于传输线而言却是全反射，根本不能用。

二．测试方法 这儿只讨论用矢量网络分析仪来测试双绞线，不涉及市售电脑线测试设备。

1．直接用单端仪器测试这是一种原则性的错误，因为平衡受到破坏，产生了共模电流，将导致衰减加大、窜扰严重。但有的地方仍然是这样作的，不妨试一试。

2．采用PNA100Ω差分套件。

3．将单端仪器测试口通过复用开关扩为八个，采用混合模式散射参量进行计算与校准，这是ATN公司的方法。

下面将只采用1、2两种方法进行测试，是用PNA3628进行的，其频率范围为：1KHz～120MHz。测试样本是一段22.5米的商品电缆。

三．测试结果

1．特性阻抗Z₀测试

虽然Z₀一般不是频率的函数，但仍测了三个频点，测时线长用测试频率的λ/8，测其末端开、短路时的输入电抗，相乘开方后即得。

测试频率 MHz 1 10 62.5

单端电桥测 Ω 97～114 103.6～107.7 100～106

差分电桥测 Ω 108～113 103～108 103～108

每个频率下有四个数据（四对线），两法测试结果差别不大，看来都可以用。

四．PNA100Ω差分套件

1．差分转换头

2．差分电桥它是一个由三个100Ω无感电阻，与接在测试口上的待测电阻，组成的一个平衡电桥（惠士顿电桥）。

由信号源来的单端信号，通过平衡器变成差分信号后，接到电桥的对角线两端。另一个对角线两端，再通过另一平衡器将误差信号变成单端信号后，送到仪器的接收输入端。即可直接得测得100Ω双线系统的回损或驻波比，也可测试输入阻抗；但数值要乘2，因为仪器为50Ω系统。

五． 结束语

直接用常规单端矢量网络分析仪测特性阻抗是可行的，测回损的误差则大了些，但似乎尚能勉强使用，测衰减则

显著偏大，测窜扰则严重失实。

采用PNA100Ω差分套件后，矢量网络分析仪既可胜任各种双绞线的测试，也可进行时域故障定位测试。

2.4 微带线的测试

一．微带线Z₀的测试 待测微带线的样本为一长度≥6cm的一块微带线，按前述测Z₀方法，测此线在末端开路与短路时的输入电抗值（不管电阻值），两者相乘后开方即得特性阻抗Z₀值。

二．微带接头的测试 在一块50Ω微带线的样本为一长度≥6cm的微带线两端装上连接器，对此线进行时域故障检查，调节两端连接器与微带线的过渡尺寸，使得两端的时域反射≤0.03（越小越好），样本适当长些以便分清两端分别对待。时域测试与频域测试互相对照, 有利于对被测线作出更合理的裁决, 到频域后可按〖菜单〗键再选《时域》返回。

三．双面复铜板介电常数的测试

1．低频测电容法

ⅰ、公式推导：由物理书可知C=Aε₀ / t，ε₀=8.8552×10^-12法/米=8.8552×10^-12F/m 若A=10×10mm²，t=1，则C=0.8855P，即1平方公分的两个板间距为1mm时的电容约0.9P，而1mm见方的面积两板间距为1mm即1mm电容=0.008855P，有介质后C=ε_rC

ε_r=112.9×C×t/A （2.1）

ⅱ、作法：用一只能分辨1P电容的三用表进行测试，如一块62×73mm²的复铜板，测得C为114P，而t扣除铜箔厚度后为0.96，则ε_r=112.9×114×0.96/（62×73）=2.67

2.5 PNA用于测波导系统

PNA常用于测同轴线系统,测波导系统时，应针对手头器件情况进行相应的变动。

一．测波导器件的插损与相移]

·按菜单键，设定扫频方案并按执行键选定之。

·将两只同轴变波导（cg）经两只波导隔离器对接起来, 入（左）端接到仪器输出端，出（右）端接到仪器输入A（或B）端，校直通。

·插损量程有四档, 可按〖↓〗键来选择, zui小一档为0-2.5dB, zui大可测80dB。测移相器相移与插损时, 可按〖菜单〗键，选《相损》档，画面将随〖↓〗键反复出现四种坐标:

1．相位量程为±180°（每格72°），插损量程为+1～-4dB。

2．插损仍为+1～-4dB，相位在光标点的附近平移展开（每格5°）。

3．相位按±180°（每格72°），插损量程改为+5～-20dB。

4．插损仍按+5～-20dB，相位在光标点的附近平移展开（每格5°）。

一．用同轴反射电桥测波导器件（或系统）的反射特性

1．常规扫频测试

·（如图2.16）将反射电桥（RB）接到同轴变波导上, 并用一块短路板将波导口短路（封上）后，按执行键进行〖校：开路〗项目。

·假如同轴变波导的失配很小时, 可直接连上待测件进行测试。

·由于波导口开路并非全反射, 因此波导系统测试中一般只好用校短路来代替校开路, 这样作对测驻波比（回损）无妨, 闪点参数所显驻波比（回损）数字有效。

·用短路代开路后相位差了180°, 因此再用阻抗圆图来看时, 就成了导纳圆图。此时用圆图只宜用来看相位与看曲线集中情况及趋势等, 而闪点参数所显相位数值需改正负号（即差±180°）, R与X是不太好用的（一定要用的话，可将R+jX用50Ω除后取倒数，即得归一后的相对导纳g +jb）。

·用矢量便于对器件进行匹配。

2．点频计量测试法

A．λ/4法

在上面提到的测试方法中，由于同轴变波导的失配不知道，必然带来误差，这种误差在点频上可用λ/4法分离。对于波导系统则用λ_g/4 。

以点频2450MHz为例，对于BJ-26，λ_g=173.36, 准备一段长度为λ_g/4=43.34±0.1的短波导即可。做法如下：

测件的反射）。以纸中心为原点，由同一原点、按同一比例在纸上画出Γ₀与Γ₁的矢量图，连接Γ₀与

Γ₁的端点a与b，找ab连线的中点m，则om =Γ_cg，ma =Γ_dut 。

通过这种测试，准确度大大提高，搞清了问题所在，可用低档设备作出产品。其实这种测试的另一目的在于，找出一个好的负载与一个好的同轴变波导以便进行扫频测试。

B．单线法（单波导法）

此法实际上是λ/4法的一种变通或推广，假如手头有的短波导不是λ_g/4，或者想校更多的频点的话，不妨试试此法。

·按测回损进行连接，在同轴反射电桥上作开路与短路校正。这是因为短波导不是λ_g/4而且还要扫频测试，只能在同轴反射电桥上作开路与短路校正。

·反射电桥接到同轴变波导，并在波导口接上待测件（同图2.17），记下Γ₀测试值（或打印出〖反射〗数据）。

·在同轴变波导口与待测件之间，接入一短波导（电长度Φ约90°，或30°到150°之间，不宜靠近180°），记下Γ₁测试值（或打印出〖反射〗数据）。见图2.19。

2φ

·同上，画出Γ₀与Γ₁的矢量图，连接Γ₀与Γ₁的端点a与b，找ab连线的中点，过中点作ab中垂线，在中垂线上找出一点m，使得∠amb = 2Φ（Φ可由实际波导长度算出，2Φ<180°时，m点在矢量三角形内，2Φ>180°时，m点在矢量三角形外）。则om = Γ_cg ，ma = Γ_dut ,误差已得到分离。此法虽然能扫频测试，但修正还得一点一点的进行。参见图2.21。

·一般使用时，带宽并不宽，即使按λ_g/4法进行扫频测试，精度也是够好的。

C．双线法（双波导法）

假如有两段长度约λ_g/6的短波导，即可采用此法。

·同B中*点，按测回损进行连接，在同轴反射电桥上作开路与短路校正。这是因为短波导不是λ_g/4而且还要扫频测试，只能在同轴反射电桥上作开路与短路校正。

·反射电桥接到同轴变波导，并在波导口接上待测件，记下Γ₀测试值（或打印出〖反射〗数据）。接法见图2.17。

·在同轴变波导口与待测件之间，接入一短波导（电长度Φ约60°，或30°到90°之间），记下Γ₁测试值（或打印出〖反射〗数据）。接法见图2.19。

dut

·在同轴变波导口与待测件之间，再接入一短波导（电长度Φ约60°，或30°到90°之间），

D．调配反射计法（滑动负载法）

滑动负载在波导中是很容易实现的，有了它，虽可以测三次定一圆（见上双线法）解出Γ_cg，但通常多采用调配反射计法。这是一种典型的点频计量方法。

·按测回损进行连接，在同轴反射电桥上作开路与短路校正，再将反射电桥接到同轴变波导上。

·在同轴变波导口接上一只四螺钉匹配器，后面再接上一只滑动负载。

·反复调节四螺钉匹配器，使得拉动滑动负载时反射系数的幅值不变（即回损不变或驻波比不变，并不要求为零），此时即可认为反射计已完成调配（误差→0）。

·用调配后的反射计测试出的Γ值，即可认为是真值。

3．提高扫频测试准确度的校零法

介绍计量方法的目的，除可以进行精密测试外，还有一个目的就是要通过测试找到一只好的波导负载（驻波比≤1.02）作标准负载，与一只好的同轴变波导（驻波比≤1.1）。

·假如有了一只标准负载, 而且接到上述同轴变波导后所测驻波比≤1.13（回损-24dB），则可以按菜单键选〖校零〗项并执行之，从而使得测试设备的精度与校零用的负载相当（即测试系统的剩余驻波比≤1.02）。但若没有好的负载, 或者接上负载后驻波≥1.13, 则不能校零, 否则反而出错。

·用λ_g/4短路波导作开路标准，扫频进行开路校正。虽然扫频作开路校正只有一点严格有效，但常规窄带应用是可行的。

三． 采用波导定向耦合器测试

1．常规扫频测试

·将仪器输出端经同轴变波导接到定向耦合器的主路输入端,付路反射输出接到仪器输入（A或B）, 在主路输出口用短路板封上后校开路。

2．点频计量测试法

采用波导定向耦合器测试后，也能采用点频计量测试法，作法同上（见二、中2、各项）。

3．提高扫频测试准确度的校零法

采用波导定向耦合器测试后，也能采用提高扫频测试准确度的校零法，作法同上（见二、中3、）。用λ_g/4短路波导作开路标准，扫频进行开路校正；虽然扫频作开路校正只有一点严格有效，但常规窄带应用是可行的。

四．采用魔T

1．常规扫频测试

·将仪器输出通过同轴变波导接到魔T的和支路, 将差支路通过同轴变波导接到仪器输入（A或B），将标准波导负载接到魔T的一路, 另一路用短路板封上后校开路。

·拆下短路板接上待测件即可进行驻波比测试。

2．点频计量测试法

采用魔T测试后，也能采用点频计量测试法，作法同上（见二、中2、各项）。

3．提高扫频测试准确度的校零法

采用魔T测试后，也能采用提高扫频测试准确度的校零法，作法同上（见二、中3、）。用λ_g/4短路波导作开路标准，扫频进行开路校正；虽然扫频作开路校正只有一点严格有效，但常规窄带应用是可行的。

§3 常用器件的测试

3.1 电感（分立元件）

一．标称值的测试

标称值一般用LCR仪器进行测试，也可用PNA进行测试。

1．用PNA3628，按测回损连接；

2．扫频方案设为0.1590MHz点频；

3．在电桥测试口上校开路与短路；

4．在测试口插上待测件即可测出其R与X值，R用于优值Q的计算，由X即可算出电感L值。

X = jωL = j2πfL = jL（μH），因此 |X|Ω= |L|μH，如X测试值为-j10Ω即为10μH。

5．按0.1590MHz设置，适于测1～999μH；

按1.590MHz设置，适于测0.1～99μH，即0.1|X|Ω= |L|μH，读数除以10；

按0.0160MHz设置，适于测10～9999μH，即10|X|Ω= |L|μH，读数乘以10；

6．也可用列表扫频方案，同时使用两或三个频率进行测试。

二．射频下的电感测试

这是一个值得思考的例子，有位用户在其150MHz，BP机主台发射机中一直采用一种线圈（在1/4W电阻上，用漆包线绕40圈），其目的估计是用作扼流圈。谁知，在PNA上一测却为容性。是仪器出了问题吗？为此，对其进行了超频带范围的测试，结果整理如下：

线圈A的阻抗轨迹为一个大圆，局部有3个小圆。线圈B（空心者）呈现4个偏心圆。

下面给一组参考数据，用0.35漆包线在Φ5杆上平绕若干圈脱下来即成为一个线圈，对于这种线圈其*谐振点f₀₁大致可用下表查出范围。

谐振时呈电阻性即Φ=0，用相位来定谐振点明确一些，比用∞好。*个谐振点为并联谐振形式，低于*个谐振点的频率呈电感性，高于*个谐振点的频率呈容性。

这里并不试图解决线圈估值与设计问题，而是通过实例说明：不能简单地将高频结构用到甚高频，更不谈用到超高频。这儿主要想说明器件或零件用在什么频率，就应该在什么频率下进行测试。对射频工作者来说，手头没有矢网进行测试，不仅仅是不方便，有时还会作出错误的选择。

3.2 电容（分立元件）

一．标称值的测试

1．按测回损连接；

2．扫频方案设为63.662MHz点频（非3628型仪器只好设为63.65MHz）；

3．在电桥测试口接上短路器后校开路，取下短路器后校短路。阻抗圆图变成导纳圆图；

4．插入待测件即可测出其导纳值（G+jB），从而算出电容C值。注意：屏幕上仍显R+jX。但要知道其实是G+jB。经过计算（从略），|X|Ω=|C|p,如测试值X为10Ω，则C为10p。同样R值也可用于优值Q的计算；

5．按63.662MHz设置时，适于测试1～999p；

按 6.366MHz设置时，适于测试10～9999p，即读数乘以10；

按 0.636MHz设置时，适于测试100～99999p，即读数乘以100；

6．也可用列表扫频方案，同时使用两或三个频率进行测试。

二．电容的高频特性

在电路中经常用到瓷片电容作旁路电容，测试中发现带引线的瓷片电容呈电容性也是有条件的。由于引线电感的参与，变成了一个串联谐振回路，随着频率的升高依次出现*个串联谐振点与*个并联谐振，也就是说一个电容的高频测试特性也是在圆图上周期性的绕圈。

集中电容，比如zui普通的瓷片电容，由于引线电感的原因，会出现串联谐振现象（Φ=180⁰），超过谐振点后呈电感性。普通瓷片电容的谐振频率大致如下：

高频时电容的等效串联电阻（ESR）变大，普通的贴片电容不宜用于微波频段。需要时，可以作一夹具进行测试，其思路是：利用待测件与一段同轴线组成λ/2腔，并联在传输线上形成一个陷波器，由陷波深度即可算出ESR。如图3.6。

3.3 陶瓷谐振腔的测试方法

陶瓷谐振腔由于耐高温，而且相对介质常数高（常在80以上），故体积小，而且温度稳定性也好（约3ppm/C⁰），常用于功率较高（瓦级）的小型移动通信设备（如手机、无绳等）。对于这种器件，一般要求测其谐振频率与Q值，对此作者摸索了一下，大致有以下几个方法：临界耦合法、反射系数法、陷波器法、弱耦合测频响法，下面分段简单介绍一下。

一．临界耦合法

在一份美国Trans tech 的应用笔记上有一短文报导了这种作法。

其思路为在一矢网上作一测试夹具，测试夹具本身为一插座，其内导体伸出一叉形簧片，插座在经过开路与短路校正后将陶瓷腔放在夹具上，陶瓷腔的引线（通常为一薄铜片）与插座的叉形形成一个耦合电容，前后移动腔体（改变耦合电容）使得腔形成临界耦合，则此时虚部为0，实数为50Ω的点的频率，即谐振频率。而∣R∣=∣X∣的两点间频带宽度去除谐振频率即得Q。

这种测试方法在矢网上用圆图来看，是很清楚的。但在标网上也能测出，只要先调临界耦合使得某一频率上回损小于-40dB的话，则回损zui低点的频率即谐振频率f₀。再找出两个7dB点的频率f₁和f₂，则Q = f₀/（f₂-f₁），[当临界耦合时，∣R∣=∣X∣点的反射为 ±j/（2±j），其反射值为0.447，回损值为-7dB]。

此法比较直观，但操作有困难，作者尝试后认为并不实用，因为夹具难做，临界耦合不是那么简单就调好了的，速度太慢。

二．直接测反射系数法

思路在矢网经过开短路校正后，在电桥测试端口开路时，光点在Г=1（Φ=0°）处，接上陶瓷腔后，在显示屏上将出现如图（图3.1）的情况，则Φ=0°的一点的频率，即谐振频率f₀，记下此点的反射系数模值或回损即可算出Q。

陶瓷谐振腔一般有两种作法，一是作成λ/4短路线，一是作成λ/2开路线。

1． λ/4短路线

Q =π/2⊿Φ=1.57/（1-|Γ|）（3.4）

有的书上 Q =π/（1-Γ²），当|Γ|→1时，两者是一致的。（推导从略）

1． λ/2开路腔可如法炮制得 Q=3.14/（1-|Γ|），似乎Q大了一倍，其实由于腔长了一倍，将增大一倍，又使Г减小，所以λ/2腔虽比λ/4腔的相位灵敏度高一倍，但Q值却差不多。

3.参考表上两式中Г是对Z_or（谐振腔的Z_o）而言，而仪器测试时是对仪器的Z_o而言，则应由仪器测出之Г算出ρ₀与ρZ₀，然后除上Z_or得到腔内之ρ_r→ 再算到Гr，以Гr代入Q值公式即得，当仪器特性阻抗Z₀=50Ω，陶瓷腔Z_or=7Ω，可参考下表取值，使用时可用对数坐标纸画出连线以便插值。

4．实测效果

·谐振频率的分辨率，决定于矢网的相位分辨率，对于相位分辨率为0.1⁰的情况下如λ/4腔，反射相位为180⁰即

能分辨1800分之一，对于900MHz，即0.5MHz。

·由于|Г|→1，因此对仪器稳定性要求很高，而为减少接触引入的损耗，因此要求接触良好，故夹具不好作。

·虽然此法比较严格，但由于实际上的问题可能并不太实用。

三．陷波器法

2．估算

Z_x=0时，V_0max=V/2，假定Z₀=50Ω， Z_x≠0时，V₀=50V/（Z_x+100），则T=V/V_0max=100/（ Z_x+100），因此可由测出的

谐振点衰减值得到T，从而解出Z_x，

Z_x=（100/T）-100 （3.5）

而陶瓷腔的Z_xmax=ρZ_0r，陶瓷腔特性阻抗Z_0r一般在7Ω左右，则可算出腔内ρ_r为Z_x/ Z_0r，由ρ_r可得有耗腔的等效|Г|代入公式可得Q，zui低点的频率即谐振频率。

示例，如某λ/4腔在谐振点测得的插损为30dB，即T=0.0316，则Z_xmax=100/T-100=3064Ω，除7得ρ=437.8，Г=0.99544，Q=1.57/（1-|Г|）=344，若λ/2腔也能测出30dB则Q=688。下面列几个数据以见一般。

3．讨论

用陷波器法测试也非常实际，操作简单，动态要求不高，但对仪器谐杂波制能力要求很高，用一般扫频仪或标网是不行的，因为这些仪器无谐杂波制能力，测出的插损（IL）偏低，测不出腔的真实Q值。

夹具要推敲一下，否则影响结果与速度，对仪器输入输出匹配也有要求，重复性不好，Q值数据起伏太大，不推荐采用。

三． 弱耦合下测频响法

1．思路将腔体接入一段传输网络中，尽量降低耦合，以得到接近无载情况下的数据。

2．夹具的考虑

如图3.8中，Z₁与Z₂如用小电容来实现，在推导中会出现ω²项不好办，用电阻可能无此问题。实际用电阻作时，插损作不高（由于两端分布电容的耦合），只好作成方形封闭的T形接头，方形是为了便于定位，并且还要引入一个台阶以便腔体放入时不会掉下来。

3．实测效果

在未放入腔体时，两针间系一截止波导，插损约60dB，放入陶瓷腔体后，陶瓷腔体的连接片改变了两针之间的耦合，使插损约40dB左右，对于1900MHz的λ/2开路腔，测出3dB带宽约3.4MHz，即Q约560，与国外产品用HP8720实测数值相符。

4．实用价值虽然这种作法的谐振频率与夹具有关，是不太严格的，但由于测试简单被测件只要放入即可，不要求

接触良好（因为原来插损就很大，接触不良不发生影响），因此是很实用的一种方法。

五．讨论

1．几种方法的比较

·临界耦合法由于不易调到临界耦合，很难说有什么使用价值，而且机理尚未搞清；

·直接测反射系数法必须要矢网，频率分辨力受相位分辨力限制，对装夹要求很严；

·陷波器法对动态要求不高，但对谐波抑制要求较高，因此普通扫频仪用不起来，适于测谐振频率，而Q值不太准。

·弱耦合法测谐振曲线此法虽不严格，但对夹具要求低，测Q准确。谐振频率与夹具有关，但重复性很好，适于工程中采用。

2．λ/2腔比λ/4腔Q高些吗？

在前面公式中λ/2腔的系数比λ/4腔高一倍，是否Q会高一倍呢？其实不然，由于λ/2腔长了一倍，考虑损耗后Q值并不高。

举个具体例子，在3GHz时7/8^“同轴线每米损耗约0.1dB，若用作谐振腔，λ/4为25mm, λ/2为50mm。

λ/4腔损耗为0.1×25/1000=0.025dB, 则回损为0.05dB, |Г|=0.999442, Q=2728。

λ/2腔损耗为0.05dB,回损为0.1dB，|Г|= 0.99885, Q = 2730。

可见两者Q是一样的。但λ/2腔的相位灵敏度要比λ/4腔快一倍，假如你能用上这个特性的话或许有些好处，想提高Q是办不到的。

3.4 标准负载与反射电桥

一．标准负载

经常会用到标准负载作为零反射，用来校正电桥的定向性，但标准负载是否合乎标准呢？

1．与另一经过计量的负载相比较，作法是用已知好的负载校零反射后，再进行测量即可，此法zui简单，而且是宽带的。

二．反射电桥

电桥与负载之间有点象鸡生蛋，还是蛋生鸡的问题，没有好桥作不出好负载，反过来没有好负载也作不出好桥，两者是互相促进的，检测电桥与检测负载差不多。

1．在电桥校过开短路后，接上好的负载，测出剩余信号即代表电桥的定向性，生产时就是这样作的，也只有此法zui方便。

2．拉动滑动负载，驻波应不变，在阻抗圆图上看应为一个圆；而此圆的圆心与仪器的圆图的圆心的偏离值，即剩余反射或定向性误差，而圆的半径即代表负载的反射，当然在此例中此值并不起作用。

3．仍然采用λ/4法，桥与负载皆可得到校正。

3.5 转接器

由于实际产品的插头各种各样，而仪器的测试接头通常只有一种，这就有个转接问题，而且它要参与到测试值中去，因此必须对其进行检测，有几种作法。

1．在转接头后接上相应的负载后，测其输入驻波，此法虽简单，问题是不易得到各种不同连接器的标准负载。但对于某一具体单位，对于某种常用的尺寸型号，作些负载也是必要的。

2．将两个转接器对接起来后仍接仪器标准负载，进行测试，由于可能偶然会碰上两个反射会抵消的情况，因此测试频带应尽量宽，偿若宽带内并无起伏，才能证明转接器无问题。

3．两个转接器对接接负载后的驻波若很小，而且在两个转接器间再串入一段对使用频率为λ/4的短标准线后的驻波仍然很小，才能证明这种转接器在这个频段没有问题，因为*次测试若反射抵消而经λ/4就会变成叠加，因此两次结果皆好，才是真好。

4．转接器的本身反射（S₁₁）能作到40dB是很好的，也是很难的，尤其是频率高时譬如3GHz能到30dB也就能用了。

对于尺寸较大的转换，可用时域法检测，找出关键反射点，以便改进。

3.6 其它

1．隔离器与环流器

PNA只能测单向的参数，必须掉头才能测试隔离度。

2．功分器

功分器为3端口以上的器件，PNA只能测其中两个端口的参数，测试时其它端口要接上匹配负载。

3．滤波器

PNA能测滤波器的频响与驻波比，适于开发与研制，还能测试滤波器的群时延。

4。放大器

请注意放大器的zui大输出问题, 由于本机输入端口灵敏度较高, 而内部又无程控衰减器，承受功率小于1mW, 测增益时必需外接衰减器以抵消放大器的增益。

§4 线天线测试

4.1 驻波比测试

测驻波比的连接与方法都是一样的，只是要注意几个实际问题。

1．天线是有辐射的天线应置于空旷场所（有条件的话，在暗室或暗箱内测试），仪器应置于无强辐射处。当手摸电缆或仪器时，读数会变即属不正常。注意电缆外导体必须与连接器外壳接触良好，必要时还要考虑仪器是否要加屏蔽。

2．注意防止电缆出问题

·实际测量中要防止电缆出问题，不是实在必要，不宜通过电缆来进行测试，否则电缆的不完善将影响测试精度，

作为测试电缆必须经过检验，其回损优于30dB为宜，随便找一根电缆可能只有十几个dB那是不行的。

·电缆不好能否进行三项校正来提高精度呢？原则上是可以的，用双阴加阳负载只适于1000MHz以下，而且PNA还要求电缆回损优于24dB才能校零，否则出错。

·即使作为连接电缆，也常因接触不良与开短路现象造成仪器不能正常工作，通常以为是仪器故障，其实多半是电缆出了问题。

3．带有长馈线的天馈系统

在机房内测馈线端口驻波即天馈系统驻波，此时一般馈线较长，少则几米多则上百米，这其中有三种反射，一是天线入口的反射，常称远端反射；另一种是馈线到仪器的转接头的反射，称近端反射；还有就是zui不好控制的馈线本身的反射。

·为了便于观测，现在多用驻波电桥来测试，它是一种差模器件，对共模50Hz有强的抑制，但是却带来了三种反射一起看的后果，造成反射的频响曲线起伏很大，当然zui高点若也合格那是没有矛盾的。但经常有多点超出，此时用扫频仪在0.01扫速档是看不出来的（由于检波滤波电路起了平滑作用，若用1秒扫速就看见了），所以人们宁愿用扫频仪或标网而不愿用PNA。

一般说来天线输入口的反射都是合格的，但由于另两项的参与就出了问题，对于近端转接一般在米波问题不大，更高频段时就得注意，尽量要减少近端反射以减少它带来的超差。

·关于主馈管的反射问题，好的主馈管会帮你忙，因为它本身反射小，所以不怎么增加反射，而又引入了损耗，每1dB插损可增加2dB回损。但差的馈管就会造成某些频点叠加而超限，这只有靠取平滑值（即只看曲线的中心线，但有的用户是不会同意的，只好仍用扫频仪）。馈线差的那怕接上的负载（1.01）也会出现某个频率突跳的谐振现象，说明此馈管不宜在此频段使用，只好在其他频段试试。

其实用时域来观测这些反射，那是分得很清的，一般远端反射并不大。而馈管的分布反射并不很小，但这种检查由于没有条文规定，不能作为验收的依据，只是一种检查故障的方法。主馈线入口驻波不合格多半是天线指标不富余而后与馈线在某些频点反射叠加造成的，因为长达百米的多个分布反射在某一频点叠加起来的概率确实是存在的，大型馈管本身作到1.1就不错了，迫不得已馈管也得进口。

4.2 阻抗测量与匹配

仅仅为了验收，测驻波比已是，但若为了试制定型，为了得到更好的阻抗匹配，就得要作阻抗测量，以便看看有无改进余地。

阻抗测量采用矢网进行，那是很方便的，仪器自动点出阻抗在圆图上的轨迹，作法参见说明书。这儿提一下阻抗匹配。

对于某种器件或某种阻抗变换器，若有现成的软件进行设计匹配的话，请尽量利用这些软件，这儿只是谈谈一般的简单的匹配原则与措施。阻抗匹配应在矢网上进行，其它仪器不知道改进方向，事倍功半甚至选错了对象。

1．选择好参考面

设计一个器件，应当在力所能及的范围内尽量设计正确，仅仅只留下一个不好交待的地方，让调试去解决。因此我们只去对付一个反射点，假如一个器件或一个天线只有一个主要反射点的话，仪器的参考面就应当设在这里或尽量靠近，当然一般测试时都选择了器件的交界接插件上，譬如一个带电缆的振子，此时参考面不能选在插头上，而要选在电缆的末端焊接振子处。

假如在圆图上看见阻抗轨迹呈蚊香状，那就要看看参考面是否选对了。

2．调节器件能调的部位使各频点的阻抗点迹能尽量集中在圆图上成一小团（先不急于匹配，先要将点子调集中），这样匹配后带宽能宽些，能调到又集中又匹配当然。

3．调匹配

·假如点子集中，并且实数靠近50Ω，虚数呈感性，那末串入适当容抗即可匹配。由于串电容不如并电容方便，因此可用一块小铜皮并上去再滑滑看（参见下面4中第5点）；

·假如实数对但虚数偏容性，这时就要减窄或改细一些的引线试试看；

·假如在实轴上，但阻值不对，这时就要用到单节或两节λ/4变阻器。四节短阶λ/16的网络进行匹配效果也很好，但须有机助软件，手算困难。

4．几点体会

·设计器件时应留有调节的结构与余地，譬如λ/4的支撑就可以调调，对于振子其粗细，长度皆应可换可调，假如振子带有反射板的话，与反射板的距离是个很重要的能将点子集中的参数。

·在圆图上某些散开的点子可以通过λ/4线的补偿特性进行收拢，有时甚至用到5倍λ/4，当然这得碰得巧，要对症下药，不能千篇一律对待。

·匹配时zui怕的是在圆图上为一弧形而在前，低端在后，越是远将越散开。此时可选中点在实轴上，为了宽带匹配不得不引入更不匹配的方法；如原来阻抗已低，却采用更低的特性阻抗，这在圆图上是看得很清楚的，不同特性阻抗线的采用，在阻抗圆图实轴上是个平移过程，平移过了原点后，自然高低端的前后关系反了过来。这样再经过一段线就可以收拢了，应该说这是很妙的一招，在全波四振子阵上就有人是这样用的。

·一般来讲，阻抗特性主要决定于天线或器件的本身，但与阻抗匹配也是相辅相成的，两者要配合得好才能取得好的结果。

·假如用并联元件来匹配时，先接短路器作开路校正，然后开路作短路校正，此时相位差了180°，因此再用阻抗圆图来看时, 就成了导纳园图，此时用圆图只宜用来看相位与看曲线集中情况及趋势等, 而闪点参数所显相位数值需改正负号（即差±180°），R与X是不太好用的（一定要用的话，可将R+jX用50Ω除后再取倒数，即得到归一后的相对导纳g + j b）。

4.3 天线阵面幅相分布的检查

一．引言

对于一个阵列天线，不管是线阵还是面阵，对其阵面场的幅相相对分布是有其相应的要求的。天线作好后一般是测其远场性能，这就要有大的设施，大的场地，费钱又费时。其实只要在近场测出其口面的幅相分布，即可算出其远场特性。近场测试也有其具体问题，需要微波暗室以及一套好的拾取天线与定位系统，但是仅仅为了证明天线是否正常，只作近场诊断（或称作检查）那就简化多了，用不了那么多的设备，只要作个拾取天线，即可用矢网测出各振子间的幅相关系。

二．拾取天线

任何形状的线天线、环皆可作拾取天线，但我们经验以对称振子与平衡环两种为好。为了简化定位问题，我们可以将拾取天线挂在要测的振子上，要作绝缘的挂钩，以尽可能保持每次放置的位置相同。

1. 对称振子（图4.1）），其长度L没有什么要求，一般短于被测件即可，只要拾取信号够强，短些也无妨，但两臂长度要对称。往下送的双线对称式平衡器可以用金属管焊成，也可用电缆本身作成，长度在λ／4左右即可，要求并不严格。采用正挂与反挂振子在同一被测振子上，要求两者幅度基本相等，相位则反相（即相差180°）。

2．平衡环（图4.2），环可以是圆的，也可以是矩形的。尺寸<<λ，外观对称而将同轴线心线焊到对面即可，环本身是对称的，因而形成了一个穿入式的平衡器。

这是一个磁耦合环，适宜于测线上电流分布，当然也适宜于测振子间幅相分布，但定位比对称振子困难一些。判断此环的好坏，也是正反挂在被测振子上时要求幅度基本相等，相位亦反相。

三．具体做法

图4.3画的是个3元倒相式天线, 实际上不管多少元都是一样的。

·将天线输入头接到矢网输出端口上；

·将拾取天线挂在zui强的一个振子上, 以此作为参考振子；

·设置测试频率（1点或多点），校直通；

·按菜单键, 选相损画面, 此时幅值应在0dB左右, 相位应在0°左右；

·将拾取振子挂到其他振子上, 记下幅值与相位, 即可得到各个振子的相对幅相分布；

作此试验时，应採用精测，地方要适当空旷一些, 人距天线适当远些, 若怀疑仪器不稳则可再挂回参考振子处重校后再测, 甚至测一点回一次参考振子处, 也可能另外的振子更强也不怕, 因为相损的范围为+1dB、-4dB, 这适合于测等幅分布的情况, 若起伏更大可按换档键换档, 可测+5dB到-20dB范围, 一般是够用了。

四．结束语

在V频段以上S频段以下, 全向缝阵用得较多, 我们经验证明，在调匹配过程中必须监视各缝的相位基本相同, 否则即使匹配调好了, 而增益降低了也是不好用的。测试表明, 相位分布对的增益就高, 否则就低, 这是显然的, 因为只有同相加起来才是zui大。有了矢网, 就要利用矢网能测相位这个重要功能, 使得我们能开发与生产出性能优良的天线产品。

注：标网只能测幅值分布，不能测相位分布。

4.4 方向图的测试

方向图测试本身并不难，难在它须要一套设施。首先是空旷的场地或暗室，其次是转台与安装设备，当然还要有一套收发装置能自动记录测试数据。

这里要提醒的是在测照射器的幅度方向图之前，先要测出其相位方向图以定出相位中心后，才能测幅度方向图。

Ⅰ. 相位方向图的测试

由于这个问题未受到充分重视，故这里先讲它，作为抛物反射面天线的照射器，可以是振子，也可以是喇叭，甚至是波纹喇叭，抛物面反射器对照射器不但有幅度分布要求，对相位分布也有要求，一般要求同相。或者说测幅度方向图时转台的旋转中心要落在照射器的相位中心上，除要求转台上有平移微调用的拖板，以便来回调整位置，找到合适的相位中心，当然指示设备要用有相位信息的矢网之类的幅相接收机，zui简单的就是PNA。

相位中心不是一次就找得出来的，它是一个试凑过程，甚至有的照射器E面与H面相位中心不重合，假如你能在天线反射面或付面中能修正这些相位误差的话，你的天线设计就又高了一层。

Ⅱ. 测远场幅度方向图的考虑

一．测试距离R

一个待测天线zui大口径尺寸为D则R≥2D²/λ，对于一般通信天线大致上约为30m。这是允许口面相位差π/4推出的，适于一般常规要求。

二．架高问题

一般习惯收发天线适当架高一些，以避免阻挡与人的影响。有人想避开地的影响，拼命架高并无必要，因为在

低频段，低增益下脱离地面达到自由空间的效果是办不到的，甚至测增益有时要故意架低才能测准。但测波瓣并不太在乎高度，也不宜放在盲区，有时得适当选择一个高度才行。当然有条件的话尽量在暗室中测试。

三．系统信号强度（接收功率）估算

频谱仪灵敏度高是由带宽换来的，假如信号源不稳仍然是收不好的，对于3000 MHz，1KHz的带宽为3.3×10^-7这不是一般信号源作得到的，一般信号源只有10^-5甚至10^-4。

频谱仪是用来测频谱与交调的，仅作天线一般是没有必要购置的。

5．接收功率P_r必须高于噪声电平40dB以上，估算强度时要留有40dB以上的余量。

四．具体实现方案

以MMDS全向天线为例，G_r=13dB，λ=0.1米，λ_dB=-20dB，半波振子G_t为2dB（用等比结构天线更高一些），30米的R_dB为-52dB（空间因子）。

1．大功率检波低放方案

P_r=P_dBm+2+13-20-52= P_dBm-57dB

与交流调制的二极管灵敏度相当，但是还要加40dB动态，所以发射功率要40dBm即10W，这种作法的优点是抗干扰能力强，因为发射功率大，但这样作会干扰其它设备，大功率信号源也不太好找。

2．PNA自发自收

这种作法增加了电缆损耗，要用放大器，30米SYV—50—5损耗30dB，则动态只有30dB，用SYKY—50—9动态可达50dB，一般情况下加放大器后再用精测，发射电缆用粗些的空心电缆是够用的了，已有PNA的情况下，不必再投资。

3．PNA加放大器发，混频中放接收机收

动态可达到55dB，混频中放接收机与本振可以自制，也可以在购置天线方向图测试仪时成套购置。

4．频综发，测试接收机（或频谱仪）收，动态可到66dB，虽有好处，而投资大增。

五．不稳定的问题

1．接收的信号噪音比（S/N）不高是主要原因，至少要40dB，越高越好。

2．天线与转台不牢固，受风的影响或人的影响。

3．注意漏信问题。

·放大器必须放在发射天线处，远离PNA。

·输入输出两电缆尽量拉开一些，不能靠近，用一段具有双层镀银屏蔽层的电缆或其它屏蔽性能好的电缆作PNA的引入与引出。

·电缆连接器与电缆外皮必须接触良好。

4．检查仪器是否稳定

将整个环路连在一起，但发射天线到接收天线之间，用长电缆加衰减器来代替空间衰减与相移（前例中衰减量为20+52-2-13=57dB）。信号若很稳定，而且拔掉电缆后信号能下降40dB，即说明仪器正常（假如有步进衰减器，搬动衰减器信号能依次下降达40dB，那就更明确了）。

5．有外部干扰时，可在仪器输入端串入窄带带通滤波器，以抑制带外干扰。

六．改进方向

1．测方向图有正规的转台与固定装置。

2．有自动记录仪器。PNA可选自动记录中等增益天线波瓣功能。

3．有暗室或暗箱作近场诊断或测试（用PNA即可，但有一个定位问题）。暗室大到能作远场测试当然更好。

附：喜连川天线的垂直方向图

这是一种简洁的全向垂直极化天线，垂直波瓣通常要求下俯或平视，不希望上翘，为此需对垂直波瓣进行测试。

当然在实际使用状态下进行测试，但这样做代价太高，通常比较可行的方法是将天线横过来水平放置后，测水平方位波瓣来代替的。

一．水平放置的喜连川天线并不等于水平极化天线

1．不允许采用金属固定架

水平极化振子一般是对称的，允许采用垂直的金属支架（∵左右相等相反，支杆处于零场处），而喜连川天线的电场是不对称的，若用金属支架，其上必然有电流。

2．下引电缆外皮电流问题

·传导电流正规喜连川天线引出处加有λ/4扼流套，可以防止天线电流向下流，但由于有的人为了简单将这个套取消。还有的人为了调配方便，用了一段λ/4双线来代替，这是基本错误。对称式平衡器只在对称振子中有效，对于喜连川天线这种非对称结构，只有扼流套才有效，其他平衡措施一律无效。

·感应电流由于电缆外皮处于非零场中必然有感应电流，或者说喜连川天线对外皮之间必然有共模电压，通过天线对外皮的共模阻抗必然有外皮电流，但加扼流套能保证皮上电流不流入同轴线内。

二．改善波瓣测试精度的措施

·天线支架采用非金属；

·喜连川天线本身应加扼流套，正反加皆可；

·引下电缆穿入带扼流套的金属管中，扼流套可不止一个。也可将电缆外皮用吸波材料包住；

·收发天线电缆出头处的连接器，必须装配良好，电缆外皮应与连接器的地接触良好；

·发射天线应为对称线天线，并加有宽带平衡装置，防止发射交叉极化。若用对数周期振子对，电缆引出处上下管末端必须短接（有人不短接）。

·被测天线附近应开旷，尽量减少场地的不对称。

三．几个试验

·两次记录同一状态下的波瓣，应基本一致，否则有接触不良或干扰存在。

·改变天线在架上的角度以试天线本身的对称性。

·试引下电缆平伸加长或改变角度的影响。在正常接收情况下，手握（或晃动）发射或接收天线电缆，读数应基本不变，以此判断皮上电流的有无与大小。此试验只能在测插损状态下进行。

·试天线电缆端对270°，与顶端对270°所测波瓣的差别，以试场地的影响。

·以手动测试来判断仪器自动记录是否正常。

·试试旋转中心前后移动是否有影响（∵喜连川天线中心难定）。

·试外部干扰与仪器的动态范围。在校完zui大值后，在有隔离器的情况下，拔掉发射天线进行波瓣记录，记下的波瓣就是干扰分布图或动态范围（应≥40dB），可用来估计干扰的影响或想法避开干扰的方向。

四．结束语

喜连川天线由于是全向性，而且是不对称结构，对测试带来困难。再加上节数多，结构也不易作得很对称，波瓣测试能在某个频点上比较对称就不错了，所有频点全部对称是很难的，定向天线有反射板就好办多了。

4.5 线天线增益的测试

一．两天线法

1．用途当有两个相同的天线要测增益时，可用此法。尤其是圆极化天线，因为没有标准增益天线作比较，不得不采用此法。此法适于测试小的GPS天线或单组贴片天线。

2．原理此法的理论根据是，两点源在自由空间的插损IL是可以算出的，因此换成两个天线后，插损减小的dB值即两天线增益dB值的和。若两天线相同，除2即得单个天线的增益dB值。如其中有一个已知，也可算出另一个。

3．条件首先想法接近自由空间环境，在暗室中用吸波材料或在普通房间内采用小的测试距离以接近自由空间环境。

因此G≤10，频率高时好办些。其次是被测天线应有明确的辐射中心，以便量距离。如贴片天线的辐射中心就在口上，而八木天线的辐射中心就说不清，距离不好确定，不适于此法。

4．算法对于天线口面每边D都≤λ的天线，测试距离R= 2D²/λ=2λ。以GPS瓷片天线为例，λ=0.19 米，R=0.38m, 由（6.11）式知:

两天线之间的衰减P_r/P_t= G₁A₂/4πR²代入A₂=G₂/4π

=G₁G₂（λ/4πR）² 代入R=2λ

=0.0016G₁G₂

以下用dB值表示，插损IL=G₁dB+G₂dB-28dB，即G₁dB+G₂dB=28dB-IL

注意：两点源在自由空间的插损是（λ/4πR）²，而不是扩散因子1/（4πR²）。

5．测法

·在两个相同的天线的背面直接装上插座，架好并保持口面间距为2λ；

·两连接电缆校直通后，分别接到两个天线插座测其间插损IL；如IL=18dB，则G=5dB；

注意：此法以点源为准，测出的增益倍数为G₀，dB数为dBi；

此法可与比较法结合起来作，即可先测两个半波振子的G₀ ，以作比较。

二．三天线法

当有三个天线时，可用此法。条件同两天线法。

原理：用两天线法，可测得两个天线增益dB值之和；若有三个天线，其增益分别为G₁，G₂，G₃ ，两两组合测三次得：G₁dB+ G₂dB= XdB

G₂dB + G₃dB= YdB

G₃dB+ G₁dB = ZdB

三式相加除2得 G₁dB + G₂dB + G₃dB =（X+Y+Z）dB/2 = WdB 则：

G₁dB = WdB – YdB， G₂dB = WdB – ZdB， G₃dB = WdB - XdB

三天线法显然比两天线法繁得多，不是极其考究的情况，不必采用。

三．比较法

1．引言

虽然测量天线增益的方法已列入标准化资料，似乎不存在什么问题。但看到目前有些单位的场地、设备条件以及测试方法的采用上，仍然想谈一下我们在1965年测一米波雷达天线增益时碰到的一些问题，以及我们的做法。值得提醒的是，这里与一般微波天线增益测试在某些做法上很不一致的。譬如微波天线强调的是垂直口径上的起伏（包括收发双方），而在米波段，距离上的起伏（或称空间驻波）却更为重要。微波天线希望尽量架高以脱离地面，而米波段有时却故意架低来解决地面对增益测试的影响。

2．基本布置

书上谈到的测增益方法不止一种，但在米波段，用半波振子作参考天线（也可称标准增益天线），用比较法测增益可能是zui简单实用的方法。其布置示意图见图4.8，信号天线在两天线的中垂线上。

在通讯、广播电视行业中，增益G的定义本来就是相对半波振子而言的。这种定义的物理意义显而易见，测试也方便。而在雷达行业中却习惯用点源作参考（写作G₀），可惜点源只是理论上的东西，实际测试中，还得用半波振子阵测试得到G_λ/2，然后再乘1.64即得G₀。若用dB值表示，G_λ/2则成dBd, G₀ 则成dBi, dBd= dBi+2dB（注：10log1.64=2.15dB，略作2dB）。

4．被测天线的架高问题从直觉出发总希望把天线尽量架高一些来摆脱地面的。事实上，米波段天线垂直方向图都比较宽，想摆脱地面是办不到的。因此只要适当架高即可，所谓适当就是从便于操作与架设出发，只要不低到地面影响天线上的电流分布或阻抗就行了。架高不宜小于一个波长，不要以为越高越准，正相反，假如天线不下俯的话，架高越高，垂直方向所引起的损失越大。另一方面，越高晃动越大，而且垂直花瓣更多不易测准。

5．有地面反射时，垂直方向图在增益测试中的影响，虽然由于立体波束变窄所得到的好处就叫增益，但是由于垂直波束变窄，在测试距离不是很远、而且米波段地面反射严重的情况下，会带来测试值偏低的情况。这个问题让我们从信号天线的架高考虑上谈起。有三种作法:

A、升降信号天线直到找到垂直波束zui大点为止，设在此时测出的增益为G₁。

B、信号天线与被测天线等高，设此时测出的增益为G₂。

C、只要信号足够强，信号天线尽量降低，设此时测出的增益为G₃。

信号天线处于zui大点位置zui易为人接受，信号天线与被测天线等高也是习惯作法，只有第三法将信号天线架低，被测天线下俯的作法似乎不合情理，但理论（推导从略）与实践皆证明第三法是*正确的。当然若被测天线垂直方向图很宽，这个差值并不很大。

在采用第三法时，φ→180⁰，因此直接波与反射波是相消的，因此只能在信号足够强的情况下才能架低，信号太

弱时也只好架高一些。

如说驻波≤1.5）。否则应采用发射法以便对两个天线的发射功率进行监测，并代入增益公式进行修正。

3.参考天线与端射天线的相对位置问题在用比较法测天线增益时,假如天线不大并且倒下很方便的话，则两个天线可先后放在同一地点上。假如天线不能倒下，则有个d与r的问题（右图）。只要测试距离够远，由r引起的幅度差异是不大的，也是可以估算的。R方向带来的起伏主要是空间驻波。

严格地讲，应找出八木天线的相位中心，但一般可将半波振子放在激励元附近，然后前后移动（或摆动）测出空间驻波即可。

至于d的决定，宜适当大一些。可在不同的d上测空间驻波，起伏在一分贝内即可，只要大部分频率点好就行，有时个别频率上起伏达三分贝，再拉远也不行时则只好作罢。一般说来90⁰方向场强很弱只要适当拉开些即可。

4．步骤（以接收法为例）

·将半波振子调到测试频率的相应长度上（略短于λ/2），其驻波比≤1.2。

·检查被测天线驻波，若大于1.5（要求低时不妨到2），则应调好或采用发射法修正入射功率。

·信号天线开始发射，大致看看半波振子收到的信号强度，只要检测设备有足够大的读数，而且读数稳定的话，尽量将信号天线架低。

·将半波振子前后移动（或摆动）λ/2，记下zui大值P_大与zui小值P_小。

·将检测设备接到被测天线，使天线方位对准信号天线，然后下俯找到zui大值（假如天线能俯仰的话），记下信号强度P_T

被测天线增益G_dBd= P_TdB– （P_大dB+ P_小dB）/ 2

注：这里假定读数全用分贝表示，若用倍数表示则应用。

六．结束语

天线参数测试中，测增益是个需要认真对待的问题，否则难以得到可信的结果。关于空间驻波修正的测试方法自1965年提出以来，我厂一直沿用。也曾介绍给来厂参观的同志，并写入产品技术总结。考虑到有人不熟悉此法，特写出供参考。

苏州德计仪器仪表有限公司专业代理德国罗德与施瓦茨（R&S）适量网络分析仪，有需要的客户请。：, ：szdj17 ：www.szdj17.cn